• SR5220

瑕疵目标检测算法框架

产品介绍

框架基于深度学习,通过AI模型自动检测产品外观瑕疵(如划痕、裂纹、污点),取代低效人工质检。集成数据采集、AI算法及部署模块,可快速适配电子、钢铁、食品等产线,实现实时质检。企业利用自有缺陷数据训练专属模型,部署后自动分拣不良品,降低90%人工成本及漏检率,推动工业质检从经验驱动转向数据智能化,为智能制造提供全流程品控解决方案。